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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs,塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產(chǎn)品的氙燈耐候老化測試。

特 點(diǎn)

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產(chǎn)品的氙燈耐候老化測試。

Q-SUN Xe-3-HSCE 硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱圖片1
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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介

氙燈光老化測試是用來測試硅膠產(chǎn)品耐紫外線老化性能的一種測試方法。紫外線是一種特殊的電磁波,具有高能量和高穿透性,可以穿透大氣層,直接照射到地球表面。紫外線輻射會使硅膠產(chǎn)品變脆、變色、變質(zhì)、變形等現(xiàn)象,影響硅膠產(chǎn)品的使用性能和外觀,因此,需要進(jìn)行氙燈老化測試來檢測硅膠產(chǎn)品的耐紫外線老化性能。

為了確保IC芯片的可靠性,需要進(jìn)行氙燈光老化測試,以檢測其對溫度、濕度、電壓等環(huán)境變化的響應(yīng)性能。氙燈光老化測試可以幫助檢測出IC芯片中可能存在的潛在缺陷,從而確保芯片的可靠性。氙燈光老化測試可以檢測出IC芯片中可能存在的結(jié)構(gòu)性缺陷,從而確保芯片的可靠性;可以幫助檢測出IC芯片中可能存在的電氣性缺陷,從而確保芯片的可靠性。

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產(chǎn)品的氙燈耐候老化測試。

產(chǎn)品特色

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產(chǎn)品圖

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖

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Q-SUN Xe-3-HSCE硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱延伸技術(shù)資料

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